車載基準のテスト目標達成とISO 26262 認証取得にかかる期間を短縮する新機能を提供
概要
2016年11月14日 カリフォルニア州マウンテンビュー発 – シノプシス(91吃瓜网、Nasdaq上場コード:SNPS)は本日、車載SoC の品質向上、信頼性ならびに機能安全の確保に向けて、主要企業各社でシノプシスのテスト?ソリューションの採用が進んでいることを発表した。Elmos Semiconductor 社、株式会社メガチップス、Micronas 社、ルネサス エレクトロニクス株式会社、株式会社東芝をはじめとする半導体開発企業各社では、シノプシス?テスト?ソリューションを用いて、テスト目標達成にかかる期間とテストコストを削減し、既に数百万単位のSoC を出荷している。また、これらの企業の多くは、SoC 開発にあたり、自动车の安全性に影響を及ぼす故障リスクを最小化するために设计工程と管理手法に厳格な基準を設定している機能安全規格 ISO 26262 の認証取得にも成功している。
OEM ならびにTier 1 企業各社から要求される品質基準は厳格さを増しており、車載向け半導体開発企業各社では、SoC 開発において、故障率100 万分の1 以下という製造テスト基準をクリアしなければならなくなっている。また、最も高度な安全性が求められる車載システムに搭載されるためには、走行時の安全性と信頼性を確保するためのインシステム?セルフテストならびにモニタリング回路を組み込んだSoC を開発しなければならない。こうした要求に応える设计機能を提供するシノプシスのテスト?ソリューションには以下のようなものがある。
フィジカル情报を基にしたテスト回路挿入ポイント决定
テスト容易化设计ソリューション DFTMAXTMとRT レベルのテスト容易性解析ソリューション SpyGlass? DFT ADV の組み合わせにより、最適なテスト回路挿入ポイントを決定することが可能となるため、製造テスト / インシステム?セルフテストに必要となるテスト?パターンを最小限に抑えつつ故障カバレッジを最大限に高めることができる。またパターン数の削減により、テストコストの削減、あるいはさらに品質を高めるためのテスト回路の追加挿入が可能となる。フィジカル设计を考慮した論理合成ベースのソリューションであるため、テスト回路挿入による面積増加を最小限に抑えつつタイミング目標を達成することができる。
テスト?パターン削减
ISO 26262 認証を取得しているテストパターン自動生成(ATPG)ならびに診断ソリューション TetraMAX? II ATPGには、これまでのソリューションと比べてより少ないテスト?パターンでより高い欠陥解析カバレッジを達成できるテスト?プログラムを短時間で生成する最先端テクノロジが組み込まれているため、開発チームは最高レベルのテスト品質を達成することができる。最も厳格な機能安全基準であるASIL D に準拠したSoC 開発を促進するため、TetraMAX II ATPGはISO 26262 認証を取得している。
高性能な故障シミュレーション
故障シミュレータ Z01XTMには、機能テスト?パターンによる故障シミュレーションを高速化する革新的なマルチスレッディング?テクノロジが搭載されており、車載SoC の设计者は、自身が作成した機能テスト?パターンを追加して標準的な製造テストを補強することにより、テスト?カバレッジを高めることができる。
オンチップ?テスト?モニタリング
SoC 上のIP / 論理ブロックの階層テスト自動化ソリューション DesignWare? STAR Hierarchical System には、SoC の信頼性を高めるための新しいプロセス / クロック?モニタリング機能が搭載されている。高周波のクロックを追加する必要はなく、内部クロック周波数と負荷サイクルを測定する機能を活用して、ウエハ上で発生するプロセスばらつきをモニタリングすることができる。
シノプシス デザイン?グループ マーケティング担当副社長 Bijan Kiani は次のように述べている。「車載向け半導体を開発しておられるお客様各社では、当社のISO 26262 認証済みテスト?ソリューションを活用して機能安全と品質の目標を達成しておられます。こうした企業各社では、その顧客企業からこれまで以上に高い品質 / 信頼性 / 安全性を備えた半導体の供給を求められており、我々はそうした要請により短期間かつ低コストで応えられる手段を提供すべくテスト?ソリューションを強化いたしました」
シノプシスの車載SoC テスト?ソリューションについて
シノプシスのISO 26262 認証済みオートモーティブ?テスト?ソリューションは、以下のツール群で構成されている。
SpyGlass DFT ADV(RTLテスト容易性ならびにソフトエラー解析ソリューション)、TetraMAX ならびにTetraMAX II(パワー考慮のATPG ならびにシリコン診断ソリューション)、Z01X(高性能?故障シミュレータ)、DFTMAX LogicBIST(インシステム?セルフテスト?ソリューション)ならびにDesignWare STAR Memory System?(組込みテスト / リペア / 診断ソリューション)、DFTMAX Ultra(少ピン?テスト圧縮ソリューション)、DesignWare STAR Hierarchical System(SoC 上のIP / 論理ブロックの階層テスト自動化ソリューション)
シリコンからソフトウェアまでをカバーするシノプシスのオートモーティブ?ソリューションについて- 安全/安心/スマートな自动车のために -
オートモーティブ?サプライチェーンを構成する企業各社では、インフォテイメント / ADAS / V2X / 自律運転を実現するハードウェア(SoC)システムならびにソフトウェア?システムの開発に、シノプシスのSilicon to Software ソリューションの活用が進んでいる。シノプシスが提供している車載SoC 開発ツール、車載基準適合IP、車載ソフトウェアのセキュリティ / クオリティを確保するための開発ツールにより、システムの開発期間短縮と、次世代の安全 / 安心 / スマートなコネクティッド?カーの開発が可能となる。詳細な情報は、http://www.synopsys.com/automotive&苍产蝉辫;より入手可能。
シノプシスの合成ベース?テスト?ソリューションについて
シノプシスの合成ベース?テスト?ソリューションは、DFTMAX ならびにDFTMAX Ultra(テスト圧縮ソリューション)、TetraMAXⅠならびにTetraMAX II(パワー考慮のロジック?テストならびにシリコン診断ソリューション)、DFTMAX LogicBIST(インシステム?セルフテスト?ソリューション)、SpyGlass DFT ADV(RTLテスト容易性解析ソリューション)、DesignWare STAR Hierarchical System(SoC上のIP / コアの階層テスト?ソリューション)、DesignWare STAR Memory System(組込みテスト / リペア / 診断ソリューション)、Z01X(故障シミュレータ)、Yield Explorer(デザイン?ベース?イールド解析ソリューション)、CamelotTM(颁础顿ナビゲーション?システム)で构成されている。
シノプシスのテスト?ソリューションでは、組込みテスト?テクノロジとRTL 合成ソリューション Design Compiler?が緊密に統合されているため、論理機能とテスト容易性を考慮したタイミング / 消費電力 / 面積 / 配線密度の最適化を実行することができ、最終的な设计収束を最短期間で達成することができる。また、Design Compiler(論理合成ソリューション)、IC CompilerTM II(配置配線ソリューション )、 PrimeTime (スタティックタイミング?サインオフ?ソリューション)などのGalaxyデザイン?プラットフォーム構成ツール群とも緊密に統合されているため、设计とテストの両目標を満たした開発をより短期間で達成し、より高い故障カバレッジと短期間でのイールド向上を実現することができる。
シノプシスについて
91吃瓜网(Nasdaq上場コード:SNPS)は、我々が日々使用しているエレクトロニクス機器やソフトウェア製品を開発する先進企業のパートナーとして、半導体设计からソフトウェア開発に至る領域(Silicon to Software)をカバーするソリューションを提供している。電子设计自動化(EDA)ソリューションならびに半導体设计資産(IP)のグローバル?リーディング?カンパニーとして長年にわたる実績を持ち、ソフトウェア品質/セキュリティ?ソリューションの分野でも业界をリードしており、世界第15 位のソフトウェア?カンパニーとなっている。シノプシスは、最先端の半導体を開発しているSoC(system-on-chip)设计者、最高レベルの品質とセキュリティが要求されるアプリケーション?ソフトウェアの開発者に、高品質で信頼性の高い革新的製品の開発に欠かせないソリューションを提供している。詳細な情報は、 http://www.synopsys.com/japan より入手可能。
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日本シノプシス合同会社 フィールド?マーケティング?グループ 藤井 浩充
TEL: 03-6746-3940 FAX: 03-6746-3941