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テスト?ソリューション
TestMAX
罢别蝉迟惭础齿?は、半导体デバイスに组み込まれるあらゆるデジタル/メモリー/アナログ?ブロックにご活用いただける革新的な新次元のテストならびに诊断机能をご提供します。车载デバイスのテストならびに机能安全サポートはもとより、多くのデザインで用いられる高速インターフェイスを活用して比类なきテスト容量/効率を実现する各种テクノロジも含め、これまでに无いテスト?ソリューションをご提供します。
Samsung Foundry and Synopsys: Silicon Diagnosis & Yield Analysis
TestMAX: Test all the Limits
ホワイトペーパー
パワフルかつコンフィギュラビリティの高いテスト自動化フローにより、TestMAXが搭載する全ての機能はシームレスに統合されています。シノプシスのFusion Design Platformとのダイレクト?リンクによりフィジカル/タイミング/パワーを考慮しつつ、RTLデザイン開発の早期段階で複雑なDFTロジックのバリデーションが可能となっています。上図のようにTestMAXには、早期テスト性解析/プランニング、階層テストパターン圧縮、フィジカル考慮の診断、ロジックBIST、メモリーセルフテスト＆リペア、アナログ故障シミュレーションといった数々の新機能が統合されているため、これまで困難とされてきたテスト課題を解決し、最も難易度の高いデザインに対しても高いテスト効率を実現することができます。
Success Story
记事