由人工智慧驱动的设计应用
(台北訊) 新思科技(Synopsys)提供的測試(Test)解决方案,成功獲得全球半導體主要供應商及汽車晶片商,包括Elmos Semiconductor、MegaChips、Micronas、Renesas Electronics、Toshiba等眾多知名大廠採用。新思科技針對IC測試所提供的優質解决方案,不僅協助客戶的IC设计獲得更高層次的品質、可靠度和功能性安全(functional safety),更幫助他們縮短時間和降低成本,通過ISO 26262功能性安全標準認證,將汽車安全相關的失敗風險降至最低,幫助客戶順利量產出貨,獲得其所屬客戶的肯定。
圖一:新思科技的測試解决方案廣受汽車晶片供應商採用
隨著汽車結合先進技術與應用的快速發展,汽車半導體供應商也被其客戶要求加速提昇IC製造的測試品質,以達到低於百萬分之"一瑕疵(DPPM: one defective part per million)的水準。新思科技洞察汽車製造商(OEM)和一級系統供應商(Tier 1)對於品質提升的需求,因此針對高度要求安全的车用電子與應用,提供與系統內測試(in-system test)和線路監控(monitoring circuits)等息息相關的IC測試解决方案,以確保在行車期間的安全與可靠性。
新思科技的測試解决方案加速完成ISO 26262 認證
新思科技全新的測試解决方案包括: 實體感知測試點(Physically-Aware Test Points)、測試模式縮減(Pattern Reduction)、高效能錯誤模拟(High-Performance Fault Simulation)和晶載測試監控(On-Chip Test Monitoring)等。新思科技解决方案提供更廣泛的除錯覆蓋率(fault coverage),同時大幅縮短的測試時間,不僅有效提升測試結果的可靠性,更協助客戶加快通過汽車设计的ISO 26262 認證。
圖二:新思科技的測試解决方案加速ISO 26262認證
新思科技行銷副總裁Bijan Kiani表示:「汽車半導體公司採用新思科技通過ISO 26262認證的測試解决方案,以達到IC设计之"功能性安全和品質目標。新思科技針對车用電子領域已整合並研發出相關解决方案,為我們的客戶提供更快速和更省成本的方法,以達到其客戶所追求之"人性化智慧型車款,塑造無懈可擊的行車體驗。」
圖三:新思科技提供完整的測試解决方案
新思科技提供完整的汽車測試解决方案
新思科技提供經 ISO 26262認證的汽車測試解决方案的完整組合,包含SpyGlass DFT ADV的可測試性和軟體錯誤分析;TetraMAX 和TetraMAX II的power-aware ATPG 和實體診斷;Z01X 高效能錯誤模拟;系統內測試的DFTMAX LogicBIST 和DesignWare STAR Memory System? 以及崁入式測試、改錯和診斷;接腳限制壓縮(pin-limited compression) 的DFTMAX Ultra ;以及在SoC上執行IP和邏輯區塊自動階層測試的DesignWare STAR Hierarchical System等等。