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CODE V提供您快速且精確的公差分析工具
當光學系統设计完成，進行小批量生產時，為何光學性能和原设计會有落差？機構裝配的誤差該如何在前期模拟時考慮？光學元件製造和機構裝配的公差參數非常多，要如何快速進行公差分析？
CODE V不僅為光學工程師提供優質的光学设计平台，更提供多樣且快速的公差分析工具，協助您在设计過程中快速預測公差所導致的性能下降影響，以便及時修改设计。
快速的公差分析
CODE V 的 TOR 公差分析演算法是業界公認最快且精確的公差分析工具。它可以對系統的 MTF、波前誤差、光纖耦合效率、偏振依賴損耗、以及畸變等性能進行公差分析。
下圖是一數位相機鏡頭，具有13個視場，8個 Qcon 非球面，含感測器蓋板玻璃共有10個表面 (不含 stop 及像面)。對此系統增加86項預設公差及像面補償器，以波前誤差為性能進行反轉靈敏度公差分析。1秒鐘內完成公差分析並產生累積機率圖。
易於判断全部公差对系统的敏感性
透過累積機率圖 (或稱良率圖)，您可以快速掌握全部公差對系統的敏感程度，曲線越平滑越敏感。滑鼠移動至曲線某處，即可讀出其性能指標值對應的良率。
文字页面為详细的公差分析数据，可查看个别公差的分析结果。最终数据為每个视场的竣工性能，显示全部视场在相同补偿值下，98%良率的竣工结果。
更有效率判断哪些公差对系统较為敏感
CODE V 提供互動式公差工具，幫助设计者對公差進行排序。當執行 TOR 分析後，即可啟動該功能，它將最敏感的公差排在最前面。當设计者確認可緊縮（或放寬）公差值時，直接於互動式公差中輸入，立即重新評價並排序，無須再次執行公差分析。
多样的公差分析工具
CODE V 也提供有限差分和蒙地卡羅兩種演算法可以使用。當您欲評價的性能指標不屬於 TOR 公差分析所適用的性能時，可自行編輯性能指標，並使用上述兩種演算法進行公差分析。
结语
CODE V 提供速度優於業界的公差分析工具，讓您可以在每個设计階段，快速掌握系統的公差與竣工性能，是您不可或缺的光学设计工具。
更多公差分析说明可下载 White Paper 参考，也可以联繫我们的销售团队了解更多有關 CODE V 的資訊。
关键字：公差分析、光学设计、公差敏感度、良率圖