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Odyssey Defect

Synopsys 的 Odyssey 产物系列包括多个组成部分，可满足当前现代半导体晶圆制造的要求。Odyssey Defect 是经生产验证的缺陷数据管理解决方案，已成功帮助全球逾 35 个制造工厂管理其缺陷问题。Odyssey Defect 拥有超过 14 年的发展历史，可提供实时批量处置、SPC 提醒及一套完整的缺陷分析工具，来帮助制造工程师们解决随机和系统的良率问题。作为一个真正的全天候运行系统，Odyssey Defect 可有效、可靠地交付结果，运用错误修正过程，为客户保障更大化的使用时间。Odyssey Defect 有着开放和厂商中立的架构，其全面丰富的交互式图表、晶圆图和报告功能可支持所有检查、复审及分类工具。

• 简单易用的Odyssey 用户界面，可帮助生产人员实现较高的生产率
• 工具中立，平等支持所有检查和复审工具 使并行缺陷分析实现自动化，以缩短诊断周期时间
• 业内顶尖的功能，包括易于创建和维护的分析模板，这些模板可在整个晶圆厂内共享使用，并且可以由晶圆厂的良率变化触发
• 基于服务器的实时缺陷根源分析 (DSA)，SPC 功能及自动晶圆取样和输出（处置）
• 交互式电子表格和图表可在非常短时间内帮助追踪到问题的根源
• 稳定的 ORACLE 数据库及高度可靠的产物，无需对全天候运营晶圆厂进行太多维护支持
• 集成的自动化功能，可使用户更快地进行合作，在几分钟（而非几天！）之"内就完成根本原因的分析
• 现已支持在 LINUX 上使用。